I類瓷的溫度系數（T.C.)用ppm/C表示，而II類瓷用％AC。測量溫度系數的方法是 將片式電容器樣品置于溫度可控的溫度實驗室或“T.C.”實驗室中，精確地讀取不同溫度（通 常為-55C、25C、125C)下的電容量。顯然，精密的夾具和測試儀器就變得非常重要了， 特別是測量小電容量時，其ppm/C數值非常小，容量較基準值的變化往往遠小于1皮法。 由于存在去老化性，因此在測高K的II類介質時就必須注意。如果在加熱過程中對去老化的 樣品進行測量，其T.C.結果肯定是錯誤的；所以T.C.測量必須在對電容器去老化后至少一個 小時才能進行。

　　采用下面的表達式就可以計算出任何給定的溫度范圍內I類介質的溫度系數，單位為 ppm/C:

　　T.C.(ppm/℃)=[(C2 - Ci) / Ci(T2 - Ti)]106

　　這里：Ci=Ti下的電容量 C2=T2下的電容量 且 T2> Ti 舉例：某一樣品的電容量測量值如下：

　　-55℃下1997 pF，25℃下2000 pF，125℃下2004 pF 則-55℃到25℃范圍內的T.C.斜率為：

　　T.C.=[ (2000-1997) 106] / 1997[25-(-55)]=18.7 ppm/℃ 25℃到125℃范圍內的TC.斜率為：

　　T.C.=[ (2004-2000) 106] / 2000(125-25)=20.0 ppm/℃

　　II類介質的溫度系數是以在室溫基準值上變化的百分數來表示的，其變化量較線性介質大了好幾個數量級。

　　B.貼片電容介質的分類

　　I類介質由于其采用非鐵電配方，以TiO2為主要成分（介電常數小于150)， 因此具有穩定的性能。通過添加少量其他（鐵電體）氧化物，如CaTiOs或SrTi〇3，構成 "擴展型"溫度補償陶瓷則可表現出近似線性的溫度系數，介電常數增加至500。兩種類型 的介質都適用于電路中對穩定性要求很高的電容器，即介電常數無老化或老化可忽略不計， 低損耗（DF<0.001，或對于擴展型T.C.介質DF<0.002)，容量或介質損耗隨電壓或頻率的變 化為零或可忽略不計以及線性溫度特性不超出規定的公差。